防護(hù)服恒溫恒濕老化室操作指南

防護(hù)服恒溫恒濕老化室操作指南

產(chǎn)品簡介：

高溫老化室/恒溫老化室 是針對計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，PCB，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、電器、交換式充電器等高性能電子產(chǎn)品模擬一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，從而提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程。

 產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)：

    GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法 Bb

    GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)低溫試驗方法：試驗 A

   GJB150.3-1986 高溫試驗

   GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定溫?zé)嵩囼灧椒?nbsp;Cab

   GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變溫?zé)嵩囼灧椒?nbsp;Db

   GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

   GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

   GJB150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法：溫?zé)嵩囼?/span>

   GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定溫?zé)嵩囼?/span>

   GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變溫?zé)嵩囼?/span>

   GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法 411 溫?zé)嵩囼?/span>

   GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗

   GB10592-2006 高、低溫試驗箱技術(shù)條件

   GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件 （每立方米負(fù)載不大

    于 35kg/m3 鋼的熱容量 溫?zé)嵩囼灂r無有源濕、熱負(fù)載）

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制